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鍍層厚度分析儀,電鍍層測厚儀

鍍層厚度分析儀,電鍍層測厚儀

簡要描述:

鍍層厚度分析儀,電鍍層測厚儀 X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,根據(jù)該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)過前置放大器放大,再由測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號。

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  • 分析含量:ppm到99.9%
  • 溫度適應(yīng)范圍:15℃至30℃
  • 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
  • 樣品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
  • 分析范圍:同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層
  • 移動(dòng)平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
  • 鍍層厚度分析儀,電鍍層測厚儀

   X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,根據(jù)該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)過前置放大器放大,再由測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號。
   X射線源輻射強(qiáng)度的大小,與X射線管的發(fā)射強(qiáng)度和被測鋼板所吸收的X射線強(qiáng)度相關(guān)。一個(gè)在系統(tǒng)量程范圍內(nèi)的給定厚度,為了確定其所需的X射線能量值,可利用M215型X射線檢測儀進(jìn)行校準(zhǔn)。在檢測任一特殊厚度時(shí),系統(tǒng)將設(shè)定X射線的能量值,使檢測能夠順利完成。
    在厚度一定的情況下,X射線的能量值為常量。當(dāng)安全快門打開,X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過,被測鋼板將一部分能量吸收,剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收,探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關(guān)的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度,則所吸收的X射線量也將改變,這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化,檢測信號也隨之發(fā)生相應(yīng)的變化。射線測厚儀按射線源的種類可分為X射線測厚儀與核輻射線測厚儀兩類,而后者又可多r射線測厚儀與 射線測厚儀。按射線與被測板材的作用方式,又可分為穿透式和反射式。

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鍍層厚度分析儀,電鍍層測厚儀性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。


地址:深圳市寶安區(qū)松崗鎮(zhèn)江邊創(chuàng)業(yè)一路福興工業(yè)園
18926776507
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